圖文詳情
應(yīng)用領(lǐng)域：材料科學(xué)、工業(yè)、電子元件和半導(dǎo)體、生命科學(xué)
優(yōu)點(diǎn)：
1.兼顧高分辨率和高電流
GeminiSEM 460專為應(yīng)對(duì)要求嚴(yán)苛的分析任務(wù)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高效分析和自動(dòng)化的工作流程。
快速執(zhí)行高分辨率成像和分析：使用Gemini 2鏡筒，從低束流-低電壓工作條件無(wú)縫切換到高束流-高電壓工作條件（或反之）
可使用多個(gè)探測(cè)器對(duì)任意樣品進(jìn)行全方位表征
利用多功能樣品倉(cāng)進(jìn)行高效分析，還可選擇合適的分析探測(cè)器
在全新的VP模式下，調(diào)高電流，獲得計(jì)數(shù)率達(dá)4000點(diǎn)/秒的EBSD成像
通過(guò)兩個(gè)幾何對(duì)稱的EDS端口和共面式EDS/EBSD配置，可以檢測(cè)化學(xué)組分和晶體取向，實(shí)現(xiàn)高速、無(wú)陰影的EDS/EBSD成像
2.定制自動(dòng)化工作流
使用蔡司的Python腳本API，可創(chuàng)建并配置自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)流程
可根據(jù)個(gè)性化需求修改實(shí)驗(yàn)流程并量身定制想要的效果
充分利用STEM斷層掃描成像功能：將自動(dòng)傾斜和旋轉(zhuǎn)功能與特征跟蹤功能有效結(jié)合，在將所有對(duì)齊的圖像發(fā)送至專屬三維重構(gòu)軟件后，可構(gòu)建具有納米級(jí)分辨率的三維斷層成像
若需要測(cè)試材料承受極限，蔡司會(huì)為您提供執(zhí)行自動(dòng)化原位加熱和拉伸實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，可自動(dòng)為您呈現(xiàn)材料在加熱和拉伸下的情況，并實(shí)時(shí)繪制應(yīng)力應(yīng)變曲線
3.更多可能性
以Gemini 2鏡筒的設(shè)計(jì)為基礎(chǔ)，在用于材料和生命科學(xué)領(lǐng)域時(shí)，超高可調(diào)電流密度條件下的分析能力顯著提升，即使在低電壓條件下亦是如此
可充分利用各種配件來(lái)升級(jí)系統(tǒng)
在使用設(shè)備期間，可隨時(shí)輕松裝配和升級(jí)各種配置
所有GeminiSEM均加入了蔡司ZEN core生態(tài)系統(tǒng)，通過(guò)這項(xiàng)功能，可訪問(wèn)ZEN Connect、ZEN Intellesis及ZEN的分析模塊，幫助生成報(bào)告和實(shí)現(xiàn)GxP工作流程
技術(shù)參數(shù)：
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